GERİ DÖN
Ders Öğretim Planı
| Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|
| MM541 | ELEKTRON MİKROSKOBU | Seçmeli Ders Grubu | 1 | 2 | 6,00 |
Dersin Seviyesi
Yüksek Lisans
Dersin Sunulduğu Dil
Türkçe
Dersin Amacı
Bu ders kapsamında elektron optiği ile ilgili temel bilgilerin peşine SEM ve TEM başta olmak üzere elektron mikroskoplarının çalışma prensipleriyle kullanım alanlarının öğretilmesi hedeflenmektedir.
Dersi Veren Öğretim GörevlisiGörevlileri
Dr. Öğr. Üyesi Hasan Onur TAN
Öğrenme Çıktıları
| 1 | Elektron optiği konusunda bilgi sahibi olacaklar |
| 2 | SEM ve EPMA gibi cihazların yapım ve çalışma prensiplerini öğrenecekler |
| 3 | Mikroanaliz işlemlerinin nasıl yapıldığını öğrenecekler |
| 4 | TEM’in malzemelerin yapısının incelenmesindeki yeri ve önemini öğrenecekler |
| 5 | Elektron difraksiyonu çıktılarını (difraksiyon patterni) yorumlayabilecekler |
Öğrenim Türü
Birinci Öğretim
Dersin Ön Koşulu Olan Dersler
Yok
Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar
yok
Dersin İçeriği
Elektron mikroskoplarının çalışma prensipleri ve kullanım alanları
Haftalık Ayrıntılı Ders İçeriği
| Hafta | Teorik | Uygulama | Laboratuvar |
|---|---|---|---|
| 1 | Elektron optiği | ||
| 2 | Elektron optiği | ||
| 3 | Elektron demeti-numune etkileşimi | ||
| 4 | Elektron demeti-numune etkileşimi | ||
| 5 | Tarayıcı elektron mikroskobu (SEM) | ||
| 6 | Tarayıcı elektron mikroskobu (SEM) | ||
| 7 | Elektron prob mikroanalizörü (EPMA) | ||
| 8 | Arasınav | ||
| 9 | Elektron prob mikroanalizörü (EPMA) | ||
| 10 | Mikro analiz işlemleri | ||
| 11 | Transmisyon elektron mikroskobu (TEM) | ||
| 12 | Transmisyon elektron mikroskobu (TEM) | ||
| 13 | Elektron difraksiyonu ve uygulamaları | ||
| 14 | Elektron difraksiyonu ve uygulamaları |
Ders Kitabı Malzemesi Önerilen Kaynaklar
P.J. Goodhew, J. Humphreys and R. Bcanland, “Electron Microscopy and Analysis”, Taylor & Francis, London, UK, 2001 (ISBN 0–7484 0968–8) J. W. Edington, “Practical Electron Microscopy in Materials Science”, VNR Company, New York, USA, 1976. T. Savaşkan, “Elektron Mikroskoplarının Endüstriyel Problemlere Uygulanması”, KTÜ Mühendislik-Mimarlık Fakültesi (Genel Yayın No: 108, Fakülte Yayın No: 35) 1986
Planlanan Öğrenme Aktiviteleri ve Metodları
Değerlendirme
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | Adet | Değer |
|---|---|---|
| Ara Sınav | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | Adet | Değer |
| Final Sınavı | 1 | 100 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | |
| Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 | |
Staj Durumu
Yok
İş Yükü Hesaplaması
| Etkinlikler | Sayısı | Süresi (saat) | Toplam İş Yükü (saat) |
|---|---|---|---|
| Ara Sınav | 1 | 3 | 3 |
| Final Sınavı | 1 | 3 | 3 |
| Derse Katılım | 5 | 14 | 70 |
| Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma | 5 | 5 | 25 |
| Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma | 5 | 5 | 25 |
| Ev Ödevi | 5 | 10 | 50 |
| Toplam İş Yükü (saat) | 176 | ||
Program ve Öğrenme Çıktıları İlişkisi
| ÖÇ 1 |
| ÖÇ 2 |
| ÖÇ 3 |
| ÖÇ 4 |
| ÖÇ 5 |
* Katkı Düzeyi : 1 Çok düşük 2 Düşük 3 Orta 4 Yüksek 5 Çok yüksek