Dersin Kodu | Dersin Adı | Dersin Türü | Yıl | Yarıyıl | AKTS |
---|---|---|---|---|---|
MEEM-548 | SAYISAL SİSTEMLERDE TEST EDİLEBİLİRLİK VE HATA MODELLEME | Seçmeli Ders Grubu | 1 | 2 | 6,00 |
Yüksek Lisans
Sayısal sistemlerin tasarımı aşamasında ve sonrasında yürütülen doğrulama ve test protokollerinin teknik alt yapısı ile ilgili bilgilerin öğrencilere kazandırılmasıdır.
Dr. Öğr. Üyesi Mehmet Cem Dikbaş
1 | Sayısal sistem tasarımında hatanın modellemesi |
2 | Sayısal sistem tasarımı doğrulamasında simülasyon yaklaşım ve teknikleri |
3 | Sayısal sistem tasarımında hata tespit yaklaşımları |
Birinci Öğretim
-
Sayısal sistem tasarımında hata modelleme yaklaşımları, Hata modelleme, Hata simülasyonu, doğrulama ve test yaklaşımları
Hafta | Teorik | Uygulama | Laboratuvar |
---|---|---|---|
1 | Temel Kavramlar, Modelleme Yaklaşımları | ||
2 | Sayısal Devre Tasarımı Doğrulama; Simülasyon | ||
3 | Sayısal Devre Tasarımı Doğrulama; Simülasyon | ||
4 | Hatanın Modellenmesi | ||
5 | Hatanın Modellenmesi | ||
6 | Hatanın Simülasyonu | ||
7 | Hatanın Simülasyonu | ||
8 | Ara Sınav | ||
9 | S.S.F. Hata Modeli için Test Yaklaşım ve Teknikleri | ||
10 | S.S.F. Hata Modeli için Test Yaklaşım ve Teknikleri | ||
11 | S.S.F. Hata Modeli için Test Yaklaşım ve Teknikleri | ||
12 | S.S.F. Hata Modeli için Test Yaklaşım ve Teknikleri | ||
13 | Test Edilebilir Tasarım Teknikleri | ||
14 | Sıkıştırma Teknikleri, Kendini Test Edebilen Yapılar | ||
15 | Kendini Test Edebilen Yapılar | ||
16 | Final Sınavı |
Digital System Testing and Testable Design, Miron ABRAMOVICI, Melvin A. BREUER, Arthur D. FRIEDMAN, IEEE PRESS, 1990. / Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed Signal VLSI Circuits, Michael BUSHNELL, Vishwani AGRAWAL, Kluwer Publishers, 2000.
Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | Adet | Değer |
---|---|---|
Ara Sınav | 1 | 100 |
Toplam | 100 | |
Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | Adet | Değer |
Final Sınavı | 1 | 100 |
Toplam | 100 | |
Yarıyıl (Yıl) İçi Etkinlikleri | 40 | |
Yarıyıl (Yıl) Sonu Etkinlikleri | 60 |
-
Etkinlikler | Sayısı | Süresi (saat) | Toplam İş Yükü (saat) |
---|---|---|---|
Ara Sınav | 1 | 3 | 3 |
Final Sınavı | 1 | 3 | 3 |
Derse Katılım | 14 | 3 | 42 |
Beyin Fırtınası | 6 | 8 | 48 |
Bireysel Çalışma | 13 | 5 | 65 |
Ara Sınav İçin Bireysel Çalışma | 1 | 10 | 10 |
Final Sınavı içiin Bireysel Çalışma | 1 | 15 | 15 |
Toplam İş Yükü (saat) | 186 |
ÖÇ 1 |
ÖÇ 2 |
ÖÇ 3 |